A principal conclusão da história de quinze anos do IOP: a qualidade dos arquivos SCL — sobretudo os ICD gerados pelas ferramentas ICT dos fabricantes — continua sendo o gargalo crítico da integração multifabricante. No IOP 2019, apenas 10 de 159 arquivos ICD (6,28%) passaram na validação sem erros, o que levou a uma revisão fundamental da filosofia de testes da UCAIug: desde 2020 a funcionalidade ICT tornou-se parte obrigatória dos testes de certificação de IED. Paralelamente, cresceu o papel das regras de validação legíveis por máquina (OCL), e o IOP 2024 identificou mais de 120 problemas, a grande maioria relacionados com arquivos SCL. Esses resultados são transmitidos diretamente ao IEC TC 57 WG10 por meio do User Feedback Task Force e do banco de dados TISSUE, influenciando o desenvolvimento do próprio padrão IEC 61850-6.

História e cronologia dos eventos UCAIug IOP

UCA International Users Group (UCAIug) é uma organização sem fins lucrativos que promove a integração e a interoperabilidade dos sistemas elétricos baseados em padrões internacionais. A organização é uma estrutura guarda-chuva para três grupos de usuários: CIM, IEC 61850 e OpenFMB. No âmbito do IEC 61850, a UCAIug desempenha três funções-chave: acreditação de laboratórios de testes para testes de conformidade, certificação dos resultados e organização dos eventos IOP.

Os eventos IOP são realizados a cada dois anos desde 2011. A diferença fundamental entre IOP e testes de conformidade: enquanto os testes de conformidade verificam se um dispositivo específico está em conformidade com o padrão, o IOP tem como objetivo identificar as partes do padrão que admitem diferentes interpretações e podem impedir a troca de informações entre dispositivos certificados de diferentes fabricantes.

Ano / Ciclo Local Participantes Foco principal
2011 EDF R&D, Paris, França 19 empresas, 14 fabricantes, 37 pessoas Testes IED um a um; troca básica de SCL (ICD/CID/SCD)
2013 TÜV SÜD, Munique, Alemanha 43 empresas, 20 fabricantes, 93 pessoas Um a um + primeiro teste do processo de engenharia (top-down/bottom-up); compatibilidade com versão anterior Ed.2
2015 Hotel Crowne Plaza, Bruxelas, Bélgica 49 empresas, 29 fabricantes, 130 pessoas Um a um + testes aprofundados dos processos SCL (com ENTSO-E); primeiros testes de conformidade para SCT/ICT pela DNV GL
2017 Nova Orleans, Louisiana, EUA 7+ fabricantes MU (lista completa não publicada) Primeiro teste «integrado» — simulação de uma subestação inteira; participação do NIST
2019 EPRI, Charlotte, Carolina do Norte, EUA 25 fabricantes de 12 países, ~70 IED Primeira trilha dedicada a SCL/SCT; aplicação integrada em paralelo; validação de 159 ICD com 5 ferramentas
2021–2022 Virtual (out. 2021) + CESI/KEMA, Milão, Itália (jul. 2022) 28 fabricantes, ~80 pessoas 2 SCT em paralelo; integrador independente (POWER Engineers); 7 testes funcionais; primeiro R-GOOSE seguro com KDC
2023–2024 SCL IOP virtual (dez. 2023) + Birmingham, Alabama, EUA (set. 2024) 130 pessoas, 86 dispositivos/aplicações BAP (IEC 61850-7-6); validação OCL; autoconfiguração de rede a partir do SCD; mais de 120 problemas detectados
2025–2026 (previsto) Europa (outono 2026) Previsto com o IEC 61850 Boot Camp

A partir do ciclo 2021–2022, cada IOP é dividido em uma componente SCL virtual e uma componente F2F presencial, realizadas com alguns meses de intervalo.

Quando os testes de ferramentas de configuração tornaram-se uma disciplina independente

No IOP 2011 em Paris, os testes de troca SCL eram obrigatórios mas realizados como atividade auxiliar sem trilha dedicada. Conclusão principal: «Não existe uma ferramenta completa de validação SCL» — a validação XML mostrou-se insuficiente para verificar a conformidade com o IEC 61850-6.

No IOP 2013 em Munique, o fluxo de trabalho de engenharia tornou-se pela primeira vez área principal de teste. Foram descobertos «numerosos problemas relacionados com a configuração de dispositivos e o processo de engenharia baseado em SCL» (segundo a DNV), catalisando o desenvolvimento de procedimentos formalizados.

Em 2015, a DNV GL iniciou os primeiros procedimentos de conformidade para SCT e ICT. No IOP 2015 em Bruxelas, com participação da ENTSO-E, foram realizados os primeiros testes aprofundados dos processos SCL, com transmissão imediata dos resultados ao WG10.

Uma trilha SCT formalmente dedicada surgiu no IOP 2019, dividido em dois fluxos independentes — troca SCL entre SCT e aplicação integrada. Este foi o ponto de virada que deu caráter sistemático aos testes de ferramentas de configuração.

Metodologia de testes SCT/ICT

Base procedimental

O UCAIug Test Procedure Working Group (TPWG) desenvolve e mantém os procedimentos de teste via Redmine (redmine.ucaiug.org). Os procedimentos para SCT e ICT, desenvolvidos pela DNV GL com base na Edition 2 e acreditados pela UCAIug, incluem casos de teste sCnf, sDs, sSvp, etc. O padrão base IEC 61850-10 (Ed.2, 2012) define os métodos e casos de teste abstratos. As regras IEC 61850-6-3 (OCL) foram amplamente aplicadas pela primeira vez no IOP 2024.

Tipos de arquivos SCL nos testes

Tipo de arquivo Função no IOP Período de teste ativo
ICD (IED Capability Description) Arquivo de entrada principal para SCT; validação em massa no IOP 2019 (159 arquivos) De 2011 até o presente
SCD (System Configuration Description) Resultado-chave do SCT; configuração completa da subestação De 2011 até o presente
CID (Configured IED Description) Subconjunto do SCD para um IED específico; carregado no dispositivo De 2011 até o presente
SSD (System Specification Description) Diagrama unifilar, níveis de tensão, LN necessários; ponto de partida top-down Desde 2015, ativamente desde 2021
IID (Instantiated IED Description) Configuração IED específica do projeto; abordagem bottom-up (Ed.2) Desde 2013, ativamente desde 2019
SED (System Exchange Description) Descrição da interface entre projetos (Ed.2) Limitado desde 2013; testes ampliados previstos

Fluxos de trabalho de engenharia testados

A abordagem top-down é o método principal, ativamente testado desde 2019: criação SSD → importação ICD → configuração GOOSE/SV → geração SCD → extração CID → carregamento IED. Testada de ponta a ponta com a POWER Engineers no IOP 2021.

A abordagem bottom-up envolve a configuração individual via ICT específicos, geração de IID/CID e importação no SCT. Necessária quando as ferramentas top-down não conseguem lidar com especificidades de cada fabricante.

A engenharia de ida e volta (round-trip) é a troca iterativa SCT↔ICT onde as alterações SCD são retransmitidas ao ICT via IID, e as alterações do ICT retornam ao SCT.

Evolução dos testes por edições do padrão

Era Edition 1 (IOP 2011)

Apenas ICD, SSD, SCD e CID disponíveis. Testes SCT/ICT limitados à troca de CID e criação básica de SCD. Conclusão: a validação XSD não equivale à validação SCL; não existia XSD validado com correções TISSUE.

Transição para Edition 2 (IOP 2013, 2015, 2017)

O IOP 2013 foi o primeiro a testar Edition 2: novos arquivos IID e SED, compatibilidade com Ed.1, seção Services ampliada. Problemas Redmine: namespaces (#445), mistura Ed.1/Ed.2 (#444), ClientLN (#446), ExtRef (#445), DataSets (#463).

No IOP 2015, com a ENTSO-E, processo de engenharia generalizado e casos de teste derivados — pela primeira vez SCL testado com tamanha profundidade. Os resultados foram uma das causas do atraso do CDV do IEC 61850-6 Ed.2.1.

O IOP 2017 em Nova Orleans: passagem para aplicação integrada — modelagem de subestação real. Problema: ausência no IEC 61850-6 de descrição de configuração de autenticação para cliente (Issue IOP_2017/8).

Era Edition 2.1 (IOP 2019, 2021–2022, 2023–2024)

IOP 2019: validação de 159 ICD com 5 ferramentas — apenas 6,28% sem erros. A funcionalidade ICT foi incluída nos testes de conformidade obrigatórios de IED para Ed.2 Amendment 1.

IOP 2021–2022: dois SCT em paralelo, POWER Engineers como integrador neutro. Teste da Elia revelou que alguns IED bloqueavam a proteção ao perder a sincronização PTP. Primeiros testes de ADMS funcional e R-GOOSE seguro com KDC.

IOP 2023–2024: regras OCL amplamente aplicadas, abordagem BAP conforme IEC 61850-7-6. Brunner (WG10): «Muitos ICD continham elementos Services incompletos ou incorretos». Mais de 120 problemas detectados, majoritariamente SCL via novas regras OCL.

Resultados, problemas e ferramentas participantes

SCT e ICT participantes

Ferramenta Fabricante Tipo Participação confirmada no IOP
ASE61850 SCL Manager ASE / Kalkitech SCT 2021 (virtual), 2022 (Milão), 2024 (Birmingham)
Helinks STS Helinks SCT 2022 (Milão — engenharia SCD para F2F)
IEC 61850 System Configurator Siemens SCT Todos os IOP desde 2011; Ed.1, Ed.2, Ed.2.1
OpenSCD / CoMPAS LF Energy (código aberto) SCT Ecossistema em crescimento; Transpower NZ migrou em 2024
DIGSI 4/5 Siemens ICT Todos os IOP desde 2011
PCM600 / IET600 / ITT600 ABB / Hitachi Energy ICT IED (REL670, REB670, etc.) amplamente utilizados
AcSELerator Architect SEL ICT IED (SEL-451, SEL-421, etc.)
Enervista (ferramentas série UR) GE / Alstom / GE Vernova ICT Participação e white papers sobre testes multifabricante
Automation Studio Efacec ICT IOP 2013 (Munique) — BCU 500, UC 500
MiCOM S1 Agile Schneider Electric ICT Participação em vários IOP

Dados baseados em fontes públicas (PAC World, blogs de fabricantes, LinkedIn).

Problemas típicos de interoperabilidade

Gestão de namespaces — área cronicamente problemática. Fabricantes usam namespaces proprietários sem fornecer os XSD correspondentes, tornando impossível uma validação correta.

Seções privadas continuam sendo fonte de incompatibilidade. A perda de informações durante a conversão ICD → SCD → CID é um problema documentado.

Incompatibilidades nos DataTypeTemplates: tipos não-padrão não reconhecidos por outros fabricantes. Erro típico: «FCDA does not refer any existing DA or BDA».

Conflitos de endereços e blocos de controle: GOOSE AppID, MAC e IP devem ser coordenados pelo SCT; diferentes implementações de GSESettings, ReportSettings e SMVSettings.

Configuração de assinaturas GOOSE/SV: «a parte mais complexa» (GE Vernova). Vinculação ExtRef muito variável entre fabricantes.

Arquivos SCD grandes: mais de um milhão de linhas em projetos reais (2300 IED), causando problemas de desempenho e falhas de SCT.

Seção Services — problema agudizado no IOP 2024. ClientServices (atributo goose ausente = SCT considera IED incapaz de assinar GOOSE) e valKind/valImport.

Conquistas e tendências positivas

ENTSO-E: «O IOP mostrou que as partes do padrão IEC 61850 e os produtos são muito estáveis… não é necessário esperar para implantar o IEC 61850».

OpenSCD/CoMPAS (LF Energy): mudança de paradigma. Transpower NZ em 2024: fluxo completo sem dependência de fabricante. A autoconfiguração de rede desde SCD reduz significativamente os custos de comissionamento.

Impacto no padrão IEC 61850 e documentos correlatos

Canal direto (IOP → WG10): User Feedback Task Force e banco de dados TISSUE (iec61850.tissue-db.com). Exemplo: 9 problemas do IOP 2019 submetidos, revisados e resolvidos pelo WG10.

Canal inverso (WG10 → IOP): WG10 desenvolve regras OCL testadas no IOP. O IEC 61850-6-3 (em desenvolvimento) as formaliza. Sobreposição de pessoal: Herbert Falk (UCAIug + editor IEC 61850), Christoph Brunner (convocador WG10 + analista IOP).

IEC 61850-6 Amendment 2 (2024): UUID dos elementos, SclFileReference, rastreamento aprimorado de direitos de engenharia.

Brochuras CIGRE: TB 819 (2020) observa que «vários projetos encontraram sérias dificuldades» com o IEC 61850. WG B5.68 (2018) aborda diretamente a interoperabilidade de ferramentas. TB 401 fornece método estruturado de teste funcional.

Linha do tempo da evolução dos testes SCT/ICT

Parâmetro 2011 (Paris) 2013 (Munique) 2015 (Bruxelas) 2017 (Nova Orleans) 2019 (Charlotte) 2021–2022 (Virt.+Milão) 2023–2024 (Virt.+Birmingham)
Formato de testes Um a um Um a um Um a um + SCL profundo Aplicação integrada Trilha SCL + integrada SCL virtual + funcional F2F SCL virtual + funcional BAP
Trilha SCT dedicada Não Parcialmente SCL profundo Não (formalmente) Sim Sim Sim
Edição do padrão Ed.1 Ed.1 + Ed.2 Ed.2 Ed.2 Ed.2 / 2.1 Ed.2.1 Ed.2.1 / Ed.2 Amd.2
Tipos de arquivos SCL ICD, CID, SCD + IID, SED + SSD + SSD Todos os 6 tipos Todos os 6 tipos Todos os 6 + ASD (BAP)
Ferramentas de validação Nenhuma adequada Iniciais DNV GL 5 ferramentas Múltiplas OCL (RISEclipse) + XSD
Integrador independente Não Não ENTSO-E Não Não POWER Engineers POWER Engineers
Número de SCT Múltiplos 2 Múltiplos
Resultado SCL-chave «Sem validador completo» Namespaces, mistura Ed.1/2 Testes SCL profundos Sem plano formal 6,28% ICD pass rate Troca SCD, teste Elia 120+ problemas (OCL)

Conclusão: perspectivas estratégicas para o mercado de ferramentas de configuração

A história de quinze anos do IOP revela tendências fundamentais para os desenvolvedores de SCT/ICT. Em primeiro lugar, a qualidade dos arquivos ICD/IID é o calcanhar de Aquiles da integração multifabricante — a inclusão de testes ICT na certificação obrigatória de IED cria novo imperativo de mercado. Em segundo lugar, a validação OCL está substituindo a validação XSD como principal ferramenta. Em terceiro lugar, a abordagem BAP e a autoconfiguração desde SCD definem o vetor de desenvolvimento para os próximos anos. Em quarto lugar, o surgimento de SCT open-source e integradores independentes sinaliza a desconcentração do mercado.

Cada IOP confirma: a engenharia top-down continua sendo a abordagem correta, mas os obstáculos práticos — diferentes interpretações do padrão, problemas com seções privadas e elementos Services — ainda requerem soluções híbridas. O IOP 2026 na Europa, com o desenvolvimento do IEC 61850-6-3 (OCL), IEC 61850-90-30 e Edition 2 do IEC 61850-7-6, promete ser o próximo ponto de controle de maturidade das ferramentas de configuração.